Instrument Systems 在20年前研發推出第一架光譜儀時，就已實現透過光纖來耦合光輻射的技術，且自此之後，一直努力不懈於研發創新。如今，Instrument Systems 已發展出種類豐富的各式光學探頭與量測套筒，涵蓋所有應用範圍。藉由在光譜儀上連接與卸載光纖，便能輕鬆地轉換配件，使光譜儀成為功能全面的量測儀器

除此之外，Instrument Systems 的革命性光纖連接技術還有一項無與倫比的優點，即是更換配件時，絕對校準也絲毫不受影響。由於光纖固定於特殊的光纖轉接頭上，連接光譜儀的光輸入埠時，保證機械連接精準，且可再現性高。

以下表格為配件描述及其應用範圍一覽: 

型號	產品描述	應用領域
EOP-xxx	配有散射片之光學探頭	輻射度與照度量測
ISP 40	配有積分球之光學探頭	輻射度與照度量測;光耦合的發散與收斂
GON 360	角度分析儀	定向透射與反射的角度相關特性量測
ISP 150	積分球	漫透射與漫反射的量測
RMH 45	反射率量測頭	45°/0° 下之漫反射與 45°/45° 下之定向反射量測
TRA 100	透射率量測轉接頭	定向透射量測
LS 100 / LS 500	光源	可連接 GON 360 或選擇性搭配 TRA 100、ISP 15 0 或 RMH 45
OFG-xxx	光纖/光纖束	連接光譜儀與配件
PLG-xxx	光纖轉接頭	連接光纖與光譜儀的轉接元件
TOP 200	光學探頭	量測輻射率與亮度
ISP 75 / 250 / 500 / 1000	積分球	量測總輻射功率與光通量