Instrument Systems 針對 LED 之光強測量，研發設計了一系列的量測套筒，依欲測光譜範圍(可見光或紫外線)、量測幾何ILED-A 或 ILED-B，及應用領域(在實驗室或生產線上)而有所分別。

LED-4xx 系列量測套筒內配有一散射片，構成1 cm²的量測敏感偵測區。散射片後方連接著一光纖束，藉由此光纖束，可將光輻射傳導至光譜儀。此款設計具備高光傳導率與適當的偵測面均勻度之優點，特別適合量測弱光 LED 及需要高效率的生產線檢測運用。

針對需要最高量測精確度的應用，Instrument Systems 特別依據 CIE127 對「平均LED光強」的規定，研發了 LED25 光學探頭。LED25 以積分球為基礎，整體偵測區都具備極為穩定的感光性，然而其光傳導率則相對減低。

LED-4xx 系列量測套筒可與 LED-5xx、6xx與81x 系列的所有測試治具相接。藉由治具的緊扣機制，能夠確保可再現性，並準確地對正固定 LED。針對生產線上的運用(例如安裝至 LED 分檢機上)，IS 也提供精巧版的量測套筒。

產品特點: 

• 符合 CIE-127 針對發光強度與 LED 平均光強之規定
• 備有 ILED-A 與 ILED-B 兩種測定形式
• 高光傳導率縮短量測時間
• LED 測試治具的緊扣機制確保具再現性的對正固定
• 相容所有直徑25mm的 LED 測試治具(LED-5xx, LED-6xx, LED-81x)
• 可藉由光纖束與所有 Instrument Systems 的光譜儀相接

INSTRUMENT SYSTEMS 之 LED 量測套筒概覽: 

產品型號	可測光譜範圍	測定幾何形式	結構類型
實驗室用量測套筒(配有LED量測治具)
LED-436	可見光-紅外線	CIE ILED-B	散射片
LED-437	紫外線-可見光-近紅外線
LED-445	可見光-紅外線	CIE ILED-A
LED-446
LED-447	紫外線-可見光-近紅外線
LED25-430	紫外線-可見光-紅外線	CIE ILED-B	積分球
LED25-440		CIE ILED-A
生產線用精簡版量測套筒
LED-433	可見光-紅外線	CIE ILED-B	散射片
LED-433-1 1)
LED-434	紫外線-可見光-近紅外線
LED-434-1 1)
LED-453	可見光-紅外線	50毫米量測距離下0,01球面度
LED-454	紫外線-可見光-近紅外線
LED-439 2)
LED25-235 3)	CIE ILED-B	積分球

1) 配有防護玻璃之型號
2) LED-439 是 LED-43x 與 LED-45x 套筒為與 Instrument Systems 的 LED 測試治具相接而推出之擴充型號
3) LED 25 光學探頭用套筒