Instrument Systems 針對顯示器的分析與檢測，研發了多套完整量測系統，由頂尖光譜輻射儀  CAS 140 CT 或是 SPECTRO 320，再加上光學探頭 TOP 200 組合而成。

每一套完整系統皆針對其特殊運用領域量身打造，以確保最精準、最穩定的量測結果:

型號	搭載光譜儀	運用領域
DTS140	CCD 陣列式光譜儀  CAS140 CT	適用於所有顯示器以及夜間照明設計量測
DTS140 NVIS	CCD 陣列式光譜儀  CAS140 CT	量測顯示器之夜視兼容性(NVIS)，依據 MIL-L-85762A 標準
DTS320 NVIS	搭配光電倍增管之 SPECTRO320光譜儀	適用於 0,01 fL下量測夜視兼容性(NVIS)，量測敏銳度及動態範圍最高
配件	類型	運用領域
DTS 400	手動式定位	適用於待測物與量測儀器的手動定位
DTS 500	自動定位系統	完整五軸定位系統加步進馬達控制器

所有光譜輻射儀皆可搭載 DTS 500 五軸定位系統，或 DTS 400 XZY定位儀，以全自動量測顯示器的角度相關特性或是均勻度等。

裝置用以耦合光束的光學探頭 TOP 20，以及有專利模式混合器的光纖之優點如下:

• 改裝的普萊查德(Pritchard)式鏡頭可同步由光譜解析度將光圈去耦合(帶通)
• 可輕易調換光學探頭，無需重新校正(Instrument Systems出品之所有配件皆可相接)
• TOP 200 所有功能皆可透過軟體控制
• 偏極敏感度極低

Instrument Systems 提供多種鏡頭，可靈活與TOP 200搭配運用，藉由卡口式接頭即可更換，輕鬆快速。透過更換不同鏡頭，賦予控制量測點尺寸與顯示器及量測儀器間距離更大的彈性。

除了光譜輻射量測系統，Instrument Systems也提供LumiCam系列影像輝度計與色度計，並隨附可量測評估各式顯示器與面板的多功能軟體。