DTS140 NVIS – 完全符合MIL-L-85762A / MIL-STD-3009規範之量測指標
Instrument Systems 研發的 DTS140 NVIS，以在全球都創下傲人銷售成績的 CAS 140CT 陣列式光譜儀為核心，專門針對顯示器與面板的量測設計而成，完全符合 MIL-L-85762A 與 MIL-STD-3009 規範。此外，DTS140 NVIS 量測系統更搭配光學探頭 TOP 200 作為光學耦合裝置。
DTS 140 NVIS 量測系統適用於生產線上最重要的品質管理與檢測。人性化的的操作介面，搭配核心儀器陣列光譜儀特別堅固耐用的設計，能夠穩定地長時間運作，精確可靠。此外，SpecWin Pro 軟體聰明的 Pass/Fail 檢驗功能，更讓 DTS 140 NVIS 能獨立地全自動量測。
產品特點:
- 標準嚴格，更超越 MIL-L-85762A / MIL-STD-3009 之規定
- 可搭載傳統掃描式光譜儀(針對LED與白熾燈背光面板)
- 改良版的普萊查德(Pritchard)式鏡頭能完美定位量測點
- 內建廣視角對位式相機
- 光圈與衰減片可透過軟體控制
- 透過最新版 SpecWin Pro 軟體輕鬆分析與記錄量測數值
DTS140-235 NVIS之技術規格:
DTS140-235 | |
|---|---|
光譜範圍 | 380 - 1040 奈米 |
波長精度 | +/- 0,5 奈米 |
雜散光 (LED) | 5*10E-5 |
傳輸介面 | USB 2.0，另有PCI介面卡可選 |
衰減片轉輪 | OD1至OD4 |
偏極靈敏度 | < 0,4 % |
HRL90鏡頭下之量測點尺寸 | 0,075 / 0,15 / 0,3 / 0,5 毫米 |
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