DTS 320 NVIS – 0,01 fL下NVIS量測之基準儀器
Instrument Systems依據MIL-L-85762A與MIL-STD-3009標準，專門針對顯示器與面板的量測，設計研發DTS 320 NVIS(夜視兼容)量測系統。此量測系統的核心儀器為高階掃描式光譜儀SPECTRO 320，結合冷卻式PMT3光電倍增管與光學探頭TOP 200。
DTS 320 NVIS因其出類拔萃的量測性能，榮獲軍事航空產業及官方測試實驗室指定為標準參考量測系統。只有DTS 320 NVIS卓越的量測敏銳度，可以在0,01 fL的情況下量測NVIS(夜視的)輻射率。此外，DTS 320 NVIS更是市面上唯一能夠精確測量最先進的玻璃座艙(Glass-Cockpits)NVIS系統黑幅射的光譜輻射儀。
DTS 320的高速掃描能力與卓越的信號敏感度，能夠在一分鐘內迅速精確地測定NVIS輻射率(NR-A, NR-B und NR-C)。DTS 320 NVIS的標準配備中，包含內建的光電倍增管冷卻器(-5度C)，特別適合移動應用。另外還有外接式冷卻器(至-10度C)可供選擇，可進一步降低信號雜訊。
DTS 320-202 NVIS之技術規格:
DTS320-202 NVIS | |
|---|---|
光譜範圍 | 380 - 930 奈米 |
波長精度 | +/- 0.2 奈米 |
光譜解析度 | 0,5 至 10 奈米，可程式設計調整 |
輻射率最高靈敏度 | 10E-12 W/cm² sr nm |
輝度最高靈敏度 | 0,005 cd/m² 或 0,0015 fL |
輝度與色度座標量測時間 | 5秒 @ 1 cd/m² (0,3 fL) |
NVIS(夜視)輻射率量測時間 | 1 - 2 分鐘 |
*) DFI: 直接光纖輸入(Direct-Fiber-Input)，使用OFG-625光纖束，搭配橫截面轉換器
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