UV 光量測技術 – 迎接挑戰

紫外線 (UV) 輻射是一種無形的電磁輻射,波長非常短,介於200 nm和400 nm之間。UV光譜範圍通常劃分為三個波段:UVA (315-400 nm)、UVB (280-315 nm) 和和 UVC (200-280 nm)。根據其特特點──例如殺菌效果和光解作用──紫外線輻射廣泛應用於空氣及水淨化、工业和美容的表面固化、表面檢查及室內園藝等。

過去十年間,由於其體積小巧、成本效益高並節能的優點,UV LED成為具備吸引力並逐步取代傳統光源的選擇。UV LED的應用範圍不斷擴大,用戶群體也日益增多,甚至包含了消費者市場,例如用於水淨化。

UV LED 的研發及生產非常具有挑展性,尤其是 UV-B 與 UV-C 範圍的 LED。由於發射波長低,光輻射功率變小,因此只有透過靈敏度及精準極高的光學量測設備才能檢測。

Instrument Systems位從200 nm開始的UV LED 提供完整的高性能量測解決方案。該量測系統包含:

  • 經驗證的CAS系列光譜儀
  • 量測高UV通量的PTFE積分球
  • 自吸收校正補助燈
  • 以及其它量測轉接器與配件

這些量測解決方案及其組件專門設計用於實驗室與生產環境中高靈敏度、高精準度和高穩定性的UV光譜測量。

除此之外,Instrument Systems還提供專業技術與可靠方法,以進一步提升UV量測品質。PTB可追溯校準及可選的先進雜散光校正,為我們的客戶提供了額外價值,大幅提高UV量測的精確度與可靠性。

我們的 UV LED 量測解決方案包括一系列的設備與配件:

Icon Pfeil  PTFE 積分球用於量測 UV 輻射通量

Icon Pfeil  光譜儀具有 PTB 可追蹤校正

Icon Pfeil  最先進的雜散光校正,可有效抑制雜散光

Icon Pfeil  測試夾具可快速固定與更換待測 LED

Icon Pfeil  輔助光源可用於自吸收校正

Icon Pfeil 功能強大的實驗室軟體指令庫最佳化(DLL)用於生產應用

雜散光校正對 UV 光量測的關鍵影響

由於陣列式光譜儀的檢測器在 UV 及 IR 範圍靈敏度低,因此在該光譜範圍進行雜散光校正對校準光源的影響特別明顯。藉由參考光譜及量測光譜之間的比率來推算量測數據時,由雜散光引起的誤差也會增強。由此可知,雜散光校正能確保更高精度的 UV LED 輻射值量測結果。