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30.01.19: 針對UV-LED生產的快速測試

透過採用PTFE塗層的積分球和高精度光譜儀組成的測量系統,實現快速的24/7全天品質控制

許多應用(例如醫療領域或材料測試領域)都要求精準的指定紫外線輻射條件。對於UV-B和UV-C發射器,由於其輻射通量低,通常只能通過延長測量時間來達到325 nm到200 nm之間的光譜測量。因此,要在生產環境中實現快速測量,不僅需要高可靠性,還要求所有相關系統組件能夠提供大量光學特資訊。經過多年努力,Instrument Systems利用其成熟的CAS系列優質光譜儀開發出新型CAS 140D-157。這種新系統在可見光譜和UV範圍內均能夠獲得精準可靠的測量結果。配合採用PTFE塗層的積分球,該系統還能針對運行的UV發射器實施快速全天候生產測試。

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