EOP – 配備散射片之光學探頭,適用於光輻射度量測

Instrument Systems 針對光輻射度的量測與一般的光耦合輸入,研發了一系列包含各項功用的光學探頭。其分別主要在於光傳導率、餘弦校正度以及光譜範圍。所有光學探頭皆配備散射片,用以散射入射光。散射片後端與光纖入口面相接,續將光輻射耦合傳導至光譜儀內。

EOP光學探頭

產品特點

  • 可靈活連接光纖
  • 多種類型可供選擇,涵蓋不同的餘弦校正度及光傳導率
  • 另有5.7°固定視角的特別版探頭

光學探頭種類概覽: 

型號餘弦校正精度光傳導率光譜範圍適用領域
配備光纖轉接頭
EOP-146良好  一般190 - 2500 奈米 擴展光源
EOP-120一般 良好 190 - 1700 奈米通用
EOP-121一般良好  190 - 1700 奈米通用,造型扁平
EOP-140190 - 2500 奈米低光輻射
EOP-542未知190 - 2500 奈米5,7°視角
配備SMA光纖轉接頭
EOP-350極低良好 1000 - 5000 奈米紅外線
積分球
ISP 40-101極高220 - 2500 奈米 Spectralon 塗層,測量紫外線
ISP 40-102極高240 - 2600 奈米 硫酸鋇塗層,測量寬光譜範圍

針對一般的運用,我們推薦 EOP-120 及 EOP-121 系列光學探頭(側邊光纖束接孔),因為此兩款光學探頭的餘弦校正度與光傳導率皆高,擁有最佳平衡狀態。

如果您的量測目標為擴展光源,則必須使用餘弦校正度極高的光學探頭,但其光傳導率將因此相對受限。針對此類運用,我們推薦 EOP-146 光學探頭。

另外,EOP-140 光學探頭則最適合應用在需要極高光傳導率的情況。而需要特殊視角開口時(視野角度5.7°),可使用 EOP-542型光學探頭,這通常是運用於日光直射的量測。

ISP40 積分球

針對一般的光耦合以及輻射照度量測,Instrument Systems 特別研發了 ISP40 積分球。ISP 40 能夠耦合準直光束,例如光學成像系統、光纖與內窺鏡的光束。藉由球體的積分功能,不論是發散光或收斂光,全部都能被均勻地收集,並通過光纖束傳導至光譜儀。

下載專區

餘弦校正

根據光度學基本定理,假設偵測器與光源呈垂直裝置,由於光線入射角度與照度有餘弦關係,因此偵測器的信號靈敏度,應依據入射角度做餘弦修正,才能準確測得擴散光源的輻射照度。

E = E0 x cos(α)

E : 入射角下量測之輻射照度
E0 : 垂直入射角下的輻射照度
α : 入射光與探測器間的角度

一般情況下,餘弦校正度越佳,光傳導率也就越低。