RMH 45 – 反射率量測轉接頭

Instrument Systems 的反射率量測轉接頭 RMH45,特點為為操作容易且經濟實惠。使用者可透過 RMH45 測定受測物表面在45º/45º量測幾何下的定向反射率,與45º/0º下的漫反射率。

RMH 45 反射率量測轉接頭

產品特點:

  • 45º/0º 量測幾何下之漫反射
  • 45º/45º量測幾何下之定向反射
  • 波長範圍為380至2200奈米的鹵素燈
  • 可選外接光源用光纖

量測過程的第一步,是調查及建立反射基準值,然後將反射量測頭安置於待測物上。接下來再依照所需量測幾何,將耦合用光纖束連接至 RMH45 上0º或45º的位置。

待測樣本的照明,有兩種選擇: 一是使用固定於 RMH 45 上耐用型10瓦鹵素燈,可涵蓋380至2200光譜範圍的量測。另外針對不含鹵素燈的儀器版本,可藉由光纖及 PLG 轉接頭外接 LS100 / LS500 系列光源。後者可量測包含紫外光至2200奈米的光譜範圍。