DTS140 NVIS – 完全符合MIL-L-85762A / MIL-STD-3009規範之量測指標

Instrument Systems 研發的 DTS140 NVIS,以在全球都創下傲人銷售成績的 CAS 140CT / CAS 140D 陣列式光譜儀為核心,專門針對顯示器與面板的量測設計而成,完全符合 MIL-L-85762A 與 MIL-STD-3009 規範。此外,DTS140 NVIS 量測系統更搭配光學探頭 TOP 200 作為光學耦合裝置。

DTS 140 NVIS 量測系統適用於生產線上最重要的品質管理與檢測。人性化的的操作介面,搭配核心儀器陣列光譜儀特別堅固耐用的設計,能夠穩定地長時間運作,精確可靠。此外,SpecWin Pro 軟體聰明的 Pass/Fail 檢驗功能,更讓 DTS 140 NVIS 能獨立地全自動量測。

產品特點:

  • 標準嚴格,更超越 MIL-L-85762A / MIL-STD-3009 之規定
  • 改良版的普萊查德(Pritchard)式鏡頭能完美定位量測點
  • 內建廣視角對位式相機
  • 光圈與衰減片可透過軟體控制
  • 透過最新版 SpecWin Pro 軟體輕鬆分析與記錄量測數值

     

DTS140-235 NVIS之技術規格: 

DTS140-235
光譜範圍 

380 - 1040 奈米

波長精度 +/- 0,5 奈米
雜散光 (LED) 5*10E-5
傳輸介面USB 2.0,另有PCI介面卡可選
衰減片轉輪 OD1至OD4
偏極靈敏度 < 0,4 %
HRL90鏡頭下之量測點尺寸0,075 / 0,15 / 0,3 / 0,5 毫米

DTS140 NVIS技術

NVIS(夜視兼容)量測技術的關鍵,在於能否精準地捕捉380780奈米可見光,與650930奈米近紅外光譜範圍(NVG夜視儀器的敏感區域)間的極高強度差距。針對此目標,Instrument Systems特地改良CAS 140系列光譜儀,使其內部雜散光排除至最低,並能自動調節量測靈敏度,以適應不同的強度信號。